X熒光光譜儀是根據(jù)X射線熒光光譜的分析方法配置的多通道X射線熒光光譜儀,它能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量。
X射線熒光(XRF)能夠測定周期表中多達(dá)83個元素所組成的各種形式和性質(zhì)的導(dǎo)體或非導(dǎo)體固體材料,其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質(zhì)物料等。凡是能和x射線發(fā)生激烈作用的樣品都不能分析,而且要分析的樣品必須是在真空(4~5pa)環(huán)境下才能測定。
X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管通過產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),來激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷,同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線,因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。
近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得zui多也zui廣泛,是一種中型、經(jīng)濟(jì)、高性能的波長色散X射線光譜儀。
X熒光光譜儀具有以下優(yōu)點(diǎn):
a)分析速度高。測定用的時間與測定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b)X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定。
c)非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
d)X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e)分析精密度高。
f)制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
當(dāng)然,也有一些不足之處,具體如下:
a)難于作分析,故定量分析需要標(biāo)樣。
b)對輕元素的靈敏度要低一些。
c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。